失效分析工程师 (测试诊断方向)

岗位职责: 对接产品开发工程部，负责RMA芯片ATE测试、SLT测试与数据分析。 失效芯片特征化测试与FT诊断分析。 Scantest & diagnosis及相关定制化开发支持。 动态失效分析测试激发环境程序开发与调试。 定位产品缺陷，发掘CPU相关IP如电源管理、Serdes PHY、UMC等存在的问题，并协助解决。 测试向量的转换、导入、验证及除错。 芯片的测试数据分析整理，推动产品质量改善。 失效分析定制Load board，EVB debug测试硬件验证。 任职要求 本科及以上学历，计算机科学与技术、集成电路设计、微电子、电子信息工程、通信控制、自动化等相关专业。 3年以上工作经验，有大型数字芯片ATE测试开发经验，掌握爱德万93K测试机平台。 了解芯片测试原理，熟悉ATE测试程序开发和量产导入流程。 熟悉大规模数字芯片DFT开发流程，如SCAN ATPG和MBIST。 有软硬件…… 完整岗位描述与官方投递入口,请登录后在岗位详情页查看。

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